中国集成电路测试理论方法的研究与软件工具开发--丽晶微定时IC、定时芯片
世界上半导体集成电路测试如今已形成三个领域，《1》测试系统的制造。《2》测试程序的开发与
检测服务。《3》测试理论方法的研究与软件工具开发。
在中国对集成电路测试理论与方法的研究以高等学校和研究所为主,如中科院计算所、复旦大学、杭
州电子工业学院、重庆大学、上海交通大学和北京自动化测试所。
研究的课题有多个方面，各种集成电路的测试生成方法，故障模拟方法，测试码的评估与优化，电路
的易测试分析，电路的层次性可测性设计，神经网络专家系统的方法等。同时研制了相应煌软件系统，例
如：中科院计算所的大型数字电路测试生成系统，内有SCTM可油性分析系统、CPTTG零件路径跟踪测试产生
系统、APPCPT平行码临界路径跟踪故障模拟系统等，复旦大学的数字集成电路层次式测试生成系统，电子科
技大学的基于神经网络的测试生成系统，重庆大学的微处理器功能测试序列自动生成系统等。一些软件系统
曾为本单位设计新IC时产生过测试码,如复旦大学的FD-3系统。多数软件系统目前尚未完善成熟为产品。各单
位在研究者在国内外发表过较多的论文，其中如临界路径跟踪、主路径敏化法等，在国际上引起重视，影响
良好。
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