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没有核心技术的中国芯,该如何发展?--丽晶微定时IC、定时芯片

没有核心技术的中国芯,该如何发展?--丽晶微定时IC、定时芯片

当前的中国制造遭遇弱品牌危机的关键原因,还是缺少核心技术的研发能力。不止手机产品,包括 电视屏幕、汽车发动机这些核心硬件,还有芯片,国内的生产企业并不能掌握,往往都是拿来技 术二次加工。没有自己的芯片,只能是二流厂家,只有改变了制造业研发薄弱这一现状,中国制 造才能真正成为中国制造,不在是中国组装的水平。

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中国集成电路测试理论方法的研究与软件工具开发--丽晶微定时IC、定时芯片

中国集成电路测试理论方法的研究与软件工具开发--丽晶微定时IC、定时芯片

研究的课题有多个方面,各种集成电路的测试生成方法,故障模拟方法,测试码的评估与优化,电路 的易测试分析,电路的层次性可测性设计,神经网络专家系统的方法等。同时研制了相应煌软件系统, 例如:中科院计算所的大型数字电路测试生成系统,内有SCTM可油性分析系统、CPTTG零件路径跟 踪测试产生系统、APPCPT平行码临界路径跟踪故障模拟系统等,复旦大学的数字集成电路层次式测 试生成系统,电子科技大学的基于神经网络的测试生成系统,重庆大学的微处理器功能测试序列自动 生成系统等。

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中国半导体集成电路测试程序的开发与检测服务--丽晶微定时IC、定时芯片

中国半导体集成电路测试程序的开发与检测服务--丽晶微定时IC、定时芯片

以前中国集成电路的测试程序主要靠国外ATE公司提供,自行开发力量薄弱。在七五和八五国家重点 科技攻关中,北京自动测试所联合清华大学、上海交大、复旦大学、国防科大、电子部47所、华晶公 司等高校、研究所和生产厂,全面研究各类数字电路、模拟电路和混合电路的测试方法与技术,制订 出可与国际接轨的各类测试程序规范,从内容与格式上确定保证测试程序质量的统一要求。

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中国半导体集成电路测试系统制造现状--丽晶微定时IC、定时芯片

中国半导体集成电路测试系统制造现状--丽晶微定时IC、定时芯片

早期中国的测试制造系统基本靠引进,20世纪80年代中开始有国产的中小型测试系统,并逐步取替 进口产品。90年代后,中国已有多家生产中小型测试系统的公司。同时,由科技攻关成果转化的中 高档测试系统问世,以良好的性价比进入市场。

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